Kajian kakisan seragam menggunakan radiografi sinar-X
Bagi mengesan perubahan ketebalan keluli akibat kakisan seragam maka radiografi sinar-x teknik imej tunggal dinding tunggal telah digunakan. Kemampuan sinar-x 100 kV-160 kV menghasilkan ketumpatan filem yang sesuai untuk keluli telah juga dikaji. Peta kontur ketebalan bagi spesimen kepingan keluli y...
| Main Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Published: |
Universiti Kebangsaan Malaysia
1996
|
| Online Access: | http://journalarticle.ukm.my/3721/ http://journalarticle.ukm.my/3721/ |