Peranti suis nanoelektromekanikal (NEM) berunsurkan grafin dan tiub nano karbon (CNT)

Suis nanoelektromekanikal (NEM) mempunyai persamaan dengan suis konvensional semikonduktor apabila digunakan sebagai transistor dan penderia walaupun prinsip operasinya berbeza. Perbezaan prinsip operasi suis ini memberikan kelebihan kepada suis NEM untuk beroperasi dalam persekitaran yang melampau...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors:	Mohd Amir Zulkefli, Mohd Ambri Mohamed, Kim, S. Siow, Burhanuddin Yeop Majlis
Format:	Article
Language:	English
Published:	Penerbit Universiti Kebangsaan Malaysia 2018
Online Access:	http://journalarticle.ukm.my/12046/ http://journalarticle.ukm.my/12046/ http://journalarticle.ukm.my/12046/1/24%20Mohd%20Amir%20Zulkefli.pdf

id	ukm-12046
recordtype	eprints
spelling	ukm-120462018-09-09T23:40:02Z http://journalarticle.ukm.my/12046/ Peranti suis nanoelektromekanikal (NEM) berunsurkan grafin dan tiub nano karbon (CNT) Mohd Amir Zulkefli, Mohd Ambri Mohamed, Kim, S. Siow Burhanuddin Yeop Majlis, Suis nanoelektromekanikal (NEM) mempunyai persamaan dengan suis konvensional semikonduktor apabila digunakan sebagai transistor dan penderia walaupun prinsip operasinya berbeza. Perbezaan prinsip operasi suis ini memberikan kelebihan kepada suis NEM untuk beroperasi dalam persekitaran yang melampau manakala suis konvensional semikonduktor mempunyai kelebihan daripada segi infrastruktur fabrikasi yang canggih. Dalam kertas ini, kami mengulas kemajuan terbaru dan potensi teknologi NEM dalam aplikasi pensuisan berdasarkan bahan berasaskan karbon seperti CNT dan grafin. Kemajuan reka bentuk geometri suis NEM seperti struktur rusuk berlubang, mempunyai kelebihan daripada segi voltan operasi peranti yang rendah, turut dibincangkan dalam kertas ini. Berdasarkan Kitaran Gemburan Gartner, teknologi, proses dan produk untuk suis NEM atau hibrid NEM-CMOS berada di takuk berbeza iaitu di jurang ilusi, cerun pencerahan dan dataran tinggi produktiviti. Kemudian, reka bentuk geometri suis NEM berasaskan bahan-bahan ini diulas dengan lengkap berdasarkan kajian kepustakaan terbaru. Kami mengenal pasti cabaran yang terlibat dalam proses fabrikasi suis NEM berasaskan CNT dan grafin seperti kebocoran get dan proses litografi yang mencabar. Kesimpulannya, kami meringkaskan kertas kajian ini kepada beberapa sudut perspektif, pandangan dan peluang pada masa depan dalam teknologi suis NEM. Penerbit Universiti Kebangsaan Malaysia 2018-03 Article PeerReviewed application/pdf en http://journalarticle.ukm.my/12046/1/24%20Mohd%20Amir%20Zulkefli.pdf Mohd Amir Zulkefli, and Mohd Ambri Mohamed, and Kim, S. Siow and Burhanuddin Yeop Majlis, (2018) Peranti suis nanoelektromekanikal (NEM) berunsurkan grafin dan tiub nano karbon (CNT). Sains Malaysiana, 47 (3). pp. 619-633. ISSN 0126-6039 http://www.ukm.my/jsm/malay_journals/jilid47bil3_2018/KandunganJilid47Bil3_2018.html
repository_type	Digital Repository
institution_category	Local University
institution	Universiti Kebangasaan Malaysia
building	UKM Institutional Repository
collection	Online Access
language	English
description	Suis nanoelektromekanikal (NEM) mempunyai persamaan dengan suis konvensional semikonduktor apabila digunakan sebagai transistor dan penderia walaupun prinsip operasinya berbeza. Perbezaan prinsip operasi suis ini memberikan kelebihan kepada suis NEM untuk beroperasi dalam persekitaran yang melampau manakala suis konvensional semikonduktor mempunyai kelebihan daripada segi infrastruktur fabrikasi yang canggih. Dalam kertas ini, kami mengulas kemajuan terbaru dan potensi teknologi NEM dalam aplikasi pensuisan berdasarkan bahan berasaskan karbon seperti CNT dan grafin. Kemajuan reka bentuk geometri suis NEM seperti struktur rusuk berlubang, mempunyai kelebihan daripada segi voltan operasi peranti yang rendah, turut dibincangkan dalam kertas ini. Berdasarkan Kitaran Gemburan Gartner, teknologi, proses dan produk untuk suis NEM atau hibrid NEM-CMOS berada di takuk berbeza iaitu di jurang ilusi, cerun pencerahan dan dataran tinggi produktiviti. Kemudian, reka bentuk geometri suis NEM berasaskan bahan-bahan ini diulas dengan lengkap berdasarkan kajian kepustakaan terbaru. Kami mengenal pasti cabaran yang terlibat dalam proses fabrikasi suis NEM berasaskan CNT dan grafin seperti kebocoran get dan proses litografi yang mencabar. Kesimpulannya, kami meringkaskan kertas kajian ini kepada beberapa sudut perspektif, pandangan dan peluang pada masa depan dalam teknologi suis NEM.
format	Article
author	Mohd Amir Zulkefli, Mohd Ambri Mohamed, Kim, S. Siow Burhanuddin Yeop Majlis,
spellingShingle	Mohd Amir Zulkefli, Mohd Ambri Mohamed, Kim, S. Siow Burhanuddin Yeop Majlis, Peranti suis nanoelektromekanikal (NEM) berunsurkan grafin dan tiub nano karbon (CNT)
author_facet	Mohd Amir Zulkefli, Mohd Ambri Mohamed, Kim, S. Siow Burhanuddin Yeop Majlis,
author_sort	Mohd Amir Zulkefli,
title	Peranti suis nanoelektromekanikal (NEM) berunsurkan grafin dan tiub nano karbon (CNT)
title_short	Peranti suis nanoelektromekanikal (NEM) berunsurkan grafin dan tiub nano karbon (CNT)
title_full	Peranti suis nanoelektromekanikal (NEM) berunsurkan grafin dan tiub nano karbon (CNT)
title_fullStr	Peranti suis nanoelektromekanikal (NEM) berunsurkan grafin dan tiub nano karbon (CNT)
title_full_unstemmed	Peranti suis nanoelektromekanikal (NEM) berunsurkan grafin dan tiub nano karbon (CNT)
title_sort	peranti suis nanoelektromekanikal (nem) berunsurkan grafin dan tiub nano karbon (cnt)
publisher	Penerbit Universiti Kebangsaan Malaysia
publishDate	2018
url	http://journalarticle.ukm.my/12046/ http://journalarticle.ukm.my/12046/ http://journalarticle.ukm.my/12046/1/24%20Mohd%20Amir%20Zulkefli.pdf
first_indexed	2023-09-18T20:01:44Z
last_indexed	2023-09-18T20:01:44Z
_version_	1777406893929529344

Peranti suis nanoelektromekanikal (NEM) berunsurkan grafin dan tiub nano karbon (CNT)

Similar Items